布魯克的SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L是深度感應的納米力學測試系統，專門設計用于與掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的**成像能力聯用。有了這些系統，可以進行定量納米力學測試，同時使用SEM進行成像。SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L是一款專用的原位納米力學測試儀器，專為 SEM 使用而設計，但也適用于各種平臺和環境。該儀器采用布魯克電容式傳感器與極快的 78 kHz 控制系統配合使用，在納米尺度下提供**的性能和穩定性。緊湊的小尺寸設計使該系統非常適合腔體、拉曼和光學顯微鏡、同步輻射光束線等。
專為高性能和多功能性而設計
SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L的樣品臺設計能容納厚度達 10 mm 的樣品，同時提供三個方向 （XYZ） 3 mm 范圍的**樣品定位。此外，樣品和傳感器的機械耦合為納米力學測試提供了一個穩定、剛性的平臺。總之，這種設計可實現*大的傾斜度和*小工作距離，在測試期間實現*佳成像效果。
與 SEM 成像同步的原位力學數據
使用SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L采集的原位力學數據與 SEM 成像同步，且并排顯示。在左側的示例中，負載位移數據中的不連續性與在包含銅互連和脆電介質材料中觀察到的斷裂相關。同時進行機械測量和SEM成像可**了解材料變形行為。
**使用各種模式探索材料變形行為
SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L可采用多種不同模式，在各種不同樣品中測試基本力學性能、應力應變行為、剛度、斷裂韌性和變形機制。
除了標準的測試模式外，SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L還可以升級，并可使用可選模式進一步擴展其功能。從加熱選項到電特性，SEM PICOINDENTER系列Hysitron PI 85L可根據您的需求進行調整。
